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| Kriterium |  Operations Fault Tree Analysis |  Knowledge Modeling Competency Questions |  Knowledge Modeling NeOn Methodology |  Knowledge Modeling Ontology Design Patterns |
|---|---|---|---|---|
Zweckunterschiedlich | Bei einem kritischen Top-Event mit mehreren möglichen Auslösern modelliert die Methode Versagenspfade logisch. Sie macht sichtbar, welche Kombinationen aus Bedingungen zu einem Schaden führen können. | Competency Questions übersetzen ein Domänenmodell in konkrete Fragen, die es beantworten können muss. Die Methode hält den Modellumfang sauber und verhindert hübsche, aber nutzlose Strukturen. | Die NeOn Methodology strukturiert Ontology-Arbeit als kontrollierten Prozess mit Reuse, Szenarien und Reviews. Sie ist nützlich, wenn Ontologien nicht ad hoc, sondern modular und wiederverwendbar entstehen sollen. | Ontology Design Patterns liefern wiederverwendbare Bausteine für wiederkehrende Modellierungsprobleme. Die Methode bringt Struktur in die Suche nach sauberen Begriffen, Beziehungen und Rollen. |
Komplexitätunterschiedlich | Hoch | Mittel | Hoch | Mittel |
Zeitunterschiedlich | 2-6 h | 2-4 h | Mehrere Wochen bis Monate | 1-3 h pro Pattern |
Teilnehmendeunterschiedlich | 3-8 | 2-8 | 2-10 | 1-6 |
Formatidentisch | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async |
Outputunterschiedlich | Fault Tree, Critical Paths, Ursachenhypothesen, Kontrollmaßnahmen | Competency Question Set, Required Concepts, Test Queries, Coverage Matrix | Ontology Requirements Specification, Reuse Plan, Ontology Modules, Evaluation Report | Selected Patterns, Adapted Schema Fragments, Pattern Documentation |
Tagskeine Überschneidung | RisikoUrsachenanalyseSicherheit | OntologieWissensgraphUmfangAnforderungenSemantik | OntologieMethodikWiederverwendungSemantikEngineering | OntologieMusterWiederverwendungSemantikModellierung |