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In der Auswahl:NeOn MethodologyCompetency QuestionsLASR (Lightweight Approach for Software Reviews)Ontology Design Patterns
| Kriterium | ![]() Knowledge Modeling NeOn Methodology | ![]() Knowledge Modeling Competency Questions | ![]() Architecture LASR (Lightweight Approach for Software Reviews) | ![]() Knowledge Modeling Ontology Design Patterns |
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Zweckunterschiedlich | Die NeOn Methodology strukturiert Ontology-Arbeit als kontrollierten Prozess mit Reuse, Szenarien und Reviews. Sie ist nützlich, wenn Ontologien nicht ad hoc, sondern modular und wiederverwendbar entstehen sollen. | Competency Questions übersetzen ein Domänenmodell in konkrete Fragen, die es beantworten können muss. Die Methode hält den Modellumfang sauber und verhindert hübsche, aber nutzlose Strukturen. | LASR hilft Entwicklungsteams zu erkennen, wo ihre Software hinter wichtigen Qualitätszielen zurückbleibt und welche Verbesserungen sie prüfen sollten. Mit vorhandenem Systemwissen kann ein kleiner Kreis eine erste Einschätzung erarbeiten und offene Fragen gezielt untersuchen. | Ontology Design Patterns liefern wiederverwendbare Bausteine für wiederkehrende Modellierungsprobleme. Die Methode bringt Struktur in die Suche nach sauberen Begriffen, Beziehungen und Rollen. |
Komplexitätunterschiedlich | Hoch | Mittel | Mittel | Mittel |
Zeitunterschiedlich | Mehrere Wochen bis Monate | 2-4 h | 3–4 h für Ersteinschätzung; Vorbereitung und Vertiefung zusätzlich | 1-3 h pro Pattern |
Teilnehmendeunterschiedlich | 2-10 | 2-8 | 1 oder kleines Team; besonders geeignet für 3–4 Personen | 1-6 |
Formatidentisch | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async |
Outputunterschiedlich | Ontology Requirements Specification, Reuse Plan, Ontology Modules, Evaluation Report | Competency Question Set, Required Concepts, Test Queries, Coverage Matrix | Lean Mission Statement zum Zweck der Software, Priorisierte Qualitätsziele und Bewertungskriterien, Risiken und eingeschätzte Lücken zu den Qualitätszielen, Genauer untersuchte Befunde und offene Prüfungen | Selected Patterns, Adapted Schema Fragments, Pattern Documentation |
Tagskeine Überschneidung | OntologieMethodikWiederverwendungSemantikEngineering | OntologieWissensgraphUmfangAnforderungenSemantik | ArchitekturQualitätRisikoBewertungLean | OntologieMusterWiederverwendungSemantikModellierung |



