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Kriterium
Vier Papierstationen verbinden Systemzweck, Qualitätsziele, Risikokarten und eine vertiefte Untersuchung mit einem Ziel- und Lückenprofil.
Architecture
LASR (Lightweight Approach for Software Reviews)
Papierillustration von Ontology Design Patterns mit dem methodenspezifischen Arbeitsmodell.
Knowledge Modeling
Ontology Design Patterns
Papierillustration einer Test Card mit vier Feldern für Hypothese, Test, Metrik und Erfolgsschwelle.
Product Discovery
Test Card
Papierillustration einer Assumption Map als ruhige Vier-Felder-Matrix mit Hypothesenkarten und Markierung der wichtigen, kaum belegten Annahmen.
Product Discovery
Assumption Mapping
Zweckunterschiedlich
LASR hilft Entwicklungsteams zu erkennen, wo ihre Software hinter wichtigen Qualitätszielen zurückbleibt und welche Verbesserungen sie prüfen sollten. Mit vorhandenem Systemwissen kann ein kleiner Kreis eine erste Einschätzung erarbeiten und offene Fragen gezielt untersuchen.Ontology Design Patterns liefern wiederverwendbare Bausteine für wiederkehrende Modellierungsprobleme. Die Methode bringt Struktur in die Suche nach sauberen Begriffen, Beziehungen und Rollen.Die Test Card macht eine kritische Annahme prüfbar und legt vorab fest, welches Ergebnis als Erfolg zählt.Wenn Annahmen noch ungeordnet im Raum stehen, sortiert sie Unsicherheit und Hebelwirkung gegeneinander. Sie macht sichtbar, welche Hypothesen zuerst geprüft werden sollten.
Komplexitätunterschiedlich
MittelMittelNiedrigMittel
Zeitunterschiedlich
3–4 h für Ersteinschätzung; Vorbereitung und Vertiefung zusätzlich1-3 h pro Pattern20-35 min45-60 min
Teilnehmendeunterschiedlich
1 oder kleines Team; besonders geeignet für 3–4 Personen1-61-52-8
Formatidentisch
Workshop + AsyncWorkshop + AsyncWorkshop + AsyncWorkshop + Async
Outputunterschiedlich
Lean Mission Statement zum Zweck der Software, Priorisierte Qualitätsziele und Bewertungskriterien, Risiken und eingeschätzte Lücken zu den Qualitätszielen, Genauer untersuchte Befunde und offene PrüfungenSelected Patterns, Adapted Schema Fragments, Pattern DocumentationTest Card mit vorab gesetzter SchwelleAssumption Map, Test Backlog, Risk Ranking
Tagskeine Überschneidung
ArchitekturQualitätRisikoBewertungLean
OntologieMusterWiederverwendungSemantikModellierung
ExperimenteValidierungDiscoveryHypothese
AnnahmenRisikoExperimenteValidierung
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