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In der Auswahl:Fault Tree Analysis Ontology Design Patterns Failure Mode and Effects Analysis NeOn Methodology

Kriterium	Operations Fault Tree Analysis	Knowledge Modeling Ontology Design Patterns	Operations Failure Mode and Effects Analysis	Knowledge Modeling NeOn Methodology
Zweckunterschiedlich	Bei einem kritischen Top-Event mit mehreren möglichen Auslösern modelliert die Methode Versagenspfade logisch. Sie macht sichtbar, welche Kombinationen aus Bedingungen zu einem Schaden führen können.	Ontology Design Patterns liefern wiederverwendbare Bausteine für wiederkehrende Modellierungsprobleme. Die Methode bringt Struktur in die Suche nach sauberen Begriffen, Beziehungen und Rollen.	Bei einem Prozess, Produkt oder Service mit spürbaren Ausfallrisiken bewertet die Methode mögliche Fehlbilder vorab. Sie lenkt Aufmerksamkeit auf Kombinationen aus Eintritt, Wirkung und Entdeckbarkeit.	Die NeOn Methodology strukturiert Ontology-Arbeit als kontrollierten Prozess mit Reuse, Szenarien und Reviews. Sie ist nützlich, wenn Ontologien nicht ad hoc, sondern modular und wiederverwendbar entstehen sollen.
Komplexitätunterschiedlich	Hoch	Mittel	Hoch	Hoch
Zeitunterschiedlich	2-6 h	1-3 h pro Pattern	2-6 h	Mehrere Wochen bis Monate
Teilnehmendeunterschiedlich	3-8	1-6	3-10	2-10
Formatunterschiedlich	Workshop + Async	Workshop + Async	Workshop	Workshop + Async
Outputunterschiedlich	Fault Tree, Critical Paths, Ursachenhypothesen, Kontrollmaßnahmen	Selected Patterns, Adapted Schema Fragments, Pattern Documentation	FMEA Table, Risk Priority, Mitigation Actions	Ontology Requirements Specification, Reuse Plan, Ontology Modules, Evaluation Report
Tagskeine Überschneidung	RisikoUrsachenanalyseSicherheit	OntologieMusterWiederverwendungSemantikModellierung	RisikoQualitätOperationsUrsachenanalyse	OntologieMethodikWiederverwendungSemantikEngineering

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