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| Kriterium |  Product Strategy Counter Metrics |  Knowledge Modeling Ontology Design Patterns |  Knowledge Modeling Competency Questions |  Product Strategy KPI Tree |
|---|---|---|---|---|
Zweckunterschiedlich | Wenn eine Hauptmetrik Nebenwirkungen verdecken könnte, ergänzt sie Schutzsignale gegen unerwünschte Effekte. Sie macht Risiko im Wachstum oder in der Steuerung früh sichtbar. | Ontology Design Patterns liefern wiederverwendbare Bausteine für wiederkehrende Modellierungsprobleme. Die Methode bringt Struktur in die Suche nach sauberen Begriffen, Beziehungen und Rollen. | Competency Questions übersetzen ein Domänenmodell in konkrete Fragen, die es beantworten können muss. Die Methode hält den Modellumfang sauber und verhindert hübsche, aber nutzlose Strukturen. | Wenn Kennzahlen in der Organisation auseinanderlaufen, ordnet sie Treiber und Wirkungen unter einer gemeinsamen Logik. Sie zeigt, welche Metriken wirklich das Ziel tragen. |
Komplexitätunterschiedlich | Niedrig | Mittel | Mittel | Mittel |
Zeitunterschiedlich | 30-60 min | 1-3 h pro Pattern | 2-4 h | 90-180 min initial, dann laufend |
Teilnehmendeunterschiedlich | 2-6 | 1-6 | 2-8 | 3-8 |
Formatidentisch | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async |
Outputunterschiedlich | Counter-Metric-Liste, Guardrail-Definitionen | Selected Patterns, Adapted Schema Fragments, Pattern Documentation | Competency Question Set, Required Concepts, Test Queries, Coverage Matrix | KPI-Baum, Owner-Liste |
Tagskeine Überschneidung | KennzahlenMessungStrategieExperimente | OntologieMusterWiederverwendungSemantikModellierung | OntologieWissensgraphUmfangAnforderungenSemantik | KennzahlenStrategieAbstimmungMessung |