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In der Auswahl:Competency QuestionsATAM (Architecture Tradeoff Analysis Method)NeOn MethodologyOntology Design Patterns
| Kriterium | ![]() Knowledge Modeling Competency Questions | ![]() Architecture ATAM (Architecture Tradeoff Analysis Method) | ![]() Knowledge Modeling NeOn Methodology | ![]() Knowledge Modeling Ontology Design Patterns |
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Zweckunterschiedlich | Competency Questions übersetzen ein Domänenmodell in konkrete Fragen, die es beantworten können muss. Die Methode hält den Modellumfang sauber und verhindert hübsche, aber nutzlose Strukturen. | ATAM hilft, Architekturentscheidungen bei konkurrierenden Qualitätszielen abzuwägen. Dazu betrachtet das Team Geschäftsziele, Erwartungen der Beteiligten und technische Entscheidungen gemeinsam. Die Bewertung zeigt, welche Risiken weiter untersucht werden sollten. | Die NeOn Methodology strukturiert Ontology-Arbeit als kontrollierten Prozess mit Reuse, Szenarien und Reviews. Sie ist nützlich, wenn Ontologien nicht ad hoc, sondern modular und wiederverwendbar entstehen sollen. | Ontology Design Patterns liefern wiederverwendbare Bausteine für wiederkehrende Modellierungsprobleme. Die Methode bringt Struktur in die Suche nach sauberen Begriffen, Beziehungen und Rollen. |
Komplexitätunterschiedlich | Mittel | Hoch | Hoch | Mittel |
Zeitunterschiedlich | 2-4 h | Mehrere Termine plus Vorbereitung und Analyse; Gesamtaufwand fallabhängig | Mehrere Wochen bis Monate | 1-3 h pro Pattern |
Teilnehmendeunterschiedlich | 2-8 | Bewertungsteam, Architekturverantwortliche und relevante Stakeholder | 2-10 | 1-6 |
Formatidentisch | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async |
Outputunterschiedlich | Competency Question Set, Required Concepts, Test Queries, Coverage Matrix | Priorisierte Qualitätsszenarien im Utility Tree, Architekturrisiken mit Begründungen und Annahmen, Sensitivitätspunkte und Trade-off-Punkte, Ergebnisbericht mit offenen Untersuchungen | Ontology Requirements Specification, Reuse Plan, Ontology Modules, Evaluation Report | Selected Patterns, Adapted Schema Fragments, Pattern Documentation |
Tagskeine Überschneidung | OntologieWissensgraphUmfangAnforderungenSemantik | ArchitekturQualitätRisikoZielkonflikteStakeholder | OntologieMethodikWiederverwendungSemantikEngineering | OntologieMusterWiederverwendungSemantikModellierung |



