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In der Auswahl:Failure Mode and Effects AnalysisNeOn MethodologyLASR (Lightweight Approach for Software Reviews)Ontology Design Patterns
| Kriterium |  Operations Failure Mode and Effects Analysis |  Knowledge Modeling NeOn Methodology |  Architecture LASR (Lightweight Approach for Software Reviews) |  Knowledge Modeling Ontology Design Patterns |
|---|---|---|---|---|
Zweckunterschiedlich | Bei einem Prozess, Produkt oder Service mit spürbaren Ausfallrisiken bewertet die Methode mögliche Fehlbilder vorab. Sie lenkt Aufmerksamkeit auf Kombinationen aus Eintritt, Wirkung und Entdeckbarkeit. | Die NeOn Methodology strukturiert Ontology-Arbeit als kontrollierten Prozess mit Reuse, Szenarien und Reviews. Sie ist nützlich, wenn Ontologien nicht ad hoc, sondern modular und wiederverwendbar entstehen sollen. | LASR hilft Entwicklungsteams zu erkennen, wo ihre Software hinter wichtigen Qualitätszielen zurückbleibt und welche Verbesserungen sie prüfen sollten. Mit vorhandenem Systemwissen kann ein kleiner Kreis eine erste Einschätzung erarbeiten und offene Fragen gezielt untersuchen. | Ontology Design Patterns liefern wiederverwendbare Bausteine für wiederkehrende Modellierungsprobleme. Die Methode bringt Struktur in die Suche nach sauberen Begriffen, Beziehungen und Rollen. |
Komplexitätunterschiedlich | Hoch | Hoch | Mittel | Mittel |
Zeitunterschiedlich | 2-6 h | Mehrere Wochen bis Monate | 3–4 h für Ersteinschätzung; Vorbereitung und Vertiefung zusätzlich | 1-3 h pro Pattern |
Teilnehmendeunterschiedlich | 3-10 | 2-10 | 1 oder kleines Team; besonders geeignet für 3–4 Personen | 1-6 |
Formatunterschiedlich | Workshop | Workshop + Async | Workshop + Async | Workshop + Async |
Outputunterschiedlich | FMEA Table, Risk Priority, Mitigation Actions | Ontology Requirements Specification, Reuse Plan, Ontology Modules, Evaluation Report | Lean Mission Statement zum Zweck der Software, Priorisierte Qualitätsziele und Bewertungskriterien, Risiken und eingeschätzte Lücken zu den Qualitätszielen, Genauer untersuchte Befunde und offene Prüfungen | Selected Patterns, Adapted Schema Fragments, Pattern Documentation |
Tagskeine Überschneidung | RisikoQualitätOperationsUrsachenanalyse | OntologieMethodikWiederverwendungSemantikEngineering | ArchitekturQualitätRisikoBewertungLean | OntologieMusterWiederverwendungSemantikModellierung |